数字集成电路参数测试仪产品简介：

    数字集成电路测试仪采用通用微机控制采用页表式编程完善的诊断校准程序商业化齐套实用的程序库具有测试存储器的软件图形发生器具有电平精度高、输出阻抗低、电平范围宽的三态驱动器。
    可对开路门进行测试,具有三态测试能力,采用地缓冲放大器，以利用提高直流参数测试精度。
    功能测试采用双阈值比较，恒流源、恒压源、电压表是独立的、便于测试模拟电路时使用，易于扩展成其它IC测试系统。