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数/模集成电路测试仪 ICT33C+ |
5300 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：ICT33C+具有以下主要用途：
（1）维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
（2）破译被抹去型号集成电路的真实型号。
（3）烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
（4）开发各类智能电子产品，调试程序。
（5）检验新购器件的质量。
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数字IC测试仪 ICT-33C |
3800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：ICT-33C集成电路测试仪:可测1300种器件.可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,器件代换查询,内部RAM数据修改,EPROM、EEPROM器件读出写入.
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运算放大器测试仪 BJ3190A |
12800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：运算放大器测试仪 |
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集成电路测试仪 SIMI-3198 |
22800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：SIMI3198功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。
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数字集成电路测试仪 SIMI-100 |
12800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：通过总结国外同类产品的优点,本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪.该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。 |
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集成稳压测试仪 BJ3196B |
58000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：适用于正压固定、负压固定、正压可调、负压可调以及低压差集成稳压器参数测试。 |
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运算放大器测试系统 BJ3197 |
98000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：BJ3197运算放大器测试系统可测各类单、双、四运算放大器的十五个交直流参数，微机控制，CRT显示，分辨力高，精度高。
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数字IC测试系统 BJ3125A |
98000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：BJ3125A 型数字IC测试系统是BJ3125数字IC测试系统的改型产品.
采用模块化结构，继承BJ3140（美国GR-1732M）中大规模数字集成电路测试系统的优点而开发出的小型测试系统。
配101数字IC测试单元可测TTL，ECL，CMOS，EPROM，RAM，EPLD等中小规模数字IC的功能、直流参数。（32Pin）
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A/D D/A测试仪 BJ3195A |
120000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：本测试仪可测试12位及以下A/D、D/A转换器的静态参数，可用于A/D、D/A的验收测试及各种应用测试。
BJ3195A 型A/D D/A测试仪是参考美国GR1731测试系统的模式，采用模块化结构，并继承了BJ3125型中小规模数字集成电路测试系统的优点而开发出的小型线性IC测试仪。
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